Streszczenie:

W artykule przedstawiono dokładny algorytm obliczania długości stycznych do powierzchni drugiego stopnia. Wykorzystano w tym celu wyniki z pomiarów metody otaczających stycznych dla wybranego obiektu jednopowłokowego. Rozważania przeprowadzono dla obiektów o kształcie hiperboloidy jednopowło-kowej. Wykorzystanie danego algorytmu pozwala obliczyć lokalizację i kształt, ale również parametry powłoki, który w porównaniu do wcześniej stosowanych metod, pozwala uzyskać lepszą precyzję, niż ta obliczona na podstawie dotychczas istniejących algorytmów. Modyfikacja przedstawionego algorytmu pozwala na zwiększenie dokładności ostatecznych wyników, przy wykorzystaniu proponowanej metody pomiaru. Rozwiązanie takie pozwala zaoszczędzić środki finansowe oraz czas.